регистрация | карта сайта
Постоянно обновляемая лента новостей
Обзоры, комментарии и статьи
Даты и дополнительная информация о событиях компьютерного рынка
Контакты, виды деятельности, предложения и другая информация о компьютерных компаниях
Описание, технические характеристики, цены и поставщики аппаратных и программных продуктов
Новости, анонсы и пресс-релизы компьютерных компаний
Учебники, руководства, справочные материалы, техническая документация
Конференции с участием ведущих специалистов и экспертов
Информация для пользователей ITware, изменения персональных настроек, персональные закладки и web-карточки, служба переадресации
Высокооплачиваемая работа в Украине и за рубежом
   
    
     Как искать?   Расширенный поиск
 ITware :. Новости      Вход для зарегистрированных пользователейВыход
Архив
Декабрь 2001
Ноябрь 2001
Октябрь 2001
Сентябрь 2001
Август 2001
Июль 2001
Июнь 2001
Май 2001
Апрель 2001
Март 2001
Февраль 2001
Январь 2001
1 2 3 4 5 6 7
8 9 10 11 12 13 14
15 16 17 18 19 20 21
22 23 24 25 26 27 28
29 30 31        
архив за 2002 г.
архив за 2000 г.
Реклама



Mentor Graphics и Toshiba совместно разработают 0,13-мкм процесс

23 января 2001 г.

Компания Mentor Graphics (штат Орегон, США) сообщила о начале поставок оборудования для линий по выпуску полупроводников на основе 0,13-микронного техпроцесса японской корпорации Toshiba.

    Mentor Graphics Corporation поставит набор калибровочного оборудования Mentor Graphics Calibre. В дополнение к уже используемому оборудованию линии Calibre для проверки физических параметров изделий Toshiba Corporation и ее подразделение Toshiba Microelectronics Corporation теперь будут использовать основанное на приборах Calibre технологическое оборудование потоковой оптической и фотокоррекции (OPC), позволяющее добиться большей точности обработки.

    Линейка оборудования Calibre OPC √ Calibre OPCpro, Calibre MT-OPCpro, Calibre Workbench, Calibre ORC и Calibre PRINTimage √ позволяет добиться полного пакетного контроля оборудования для уменьшения производственного брака и разброса характеристик изделий.
Источник: РБК




© ICC. Перепечатка допускается
только с разрешения .
Новости Публикации Календарь событий Пресс-центр
IT-каталог: продукты IT-каталог: компании Библиотека
Форум Персональные сервисы Регистрация Карта сайта